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CPU試驗專用 PCT高壓加速老化試驗機一般稱為壓力鍋蒸煮試驗或是飽和蒸汽試驗 ，最主要是將待測品置于嚴苛之溫度 、濕度 (100%R.H.)[ 飽和水蒸氣 ] 及壓力環境下測試，測試代測品耐高濕能力，針對印刷線路板&FPC) ， 用來進行材料吸濕率試驗 、 高壓蒸煮試驗 .. 等試驗目的
更新時間:2025-09-20
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PCT高溫高濕高壓老化箱試驗一般稱為壓力鍋蒸煮試驗或是飽和蒸汽試驗 ，最主要是將待測品置于嚴苛之溫度 、濕度 (100%R.H.)[ 飽和水蒸氣 ] 及壓力環境下測試，測試代測品耐高濕能力，針對印刷線路板&FPC) ， 用來進行材料吸濕率試驗 、 高壓蒸煮試驗 .. 等試驗目的
更新時間:2025-09-19|
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hast非飽和高壓加速老化試驗箱廣泛適用于IC、PCB、LCD Board、電池、電容、電阻,及其它電子零件之高溫、高濕、高壓等信賴性試驗, 比較傳統之恒溫恒濕設備85/85%R.H.試驗時, 可以節省大量時間, 當測試溫度越高, 壓力越大,測試時間縮短越多, 在質量檢驗上大量節省電力, 人力, 物力, 提升產品競爭力.有多種型號可選擇。
更新時間:2025-09-18
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高壓加速壽命試驗機用于調查分析何時出現電子元器件，和機械零件的摩耗和使用壽命的問題，使用壽命的故障分布函數呈什么樣的形狀，以及分析失效率上升的原因所進行的試驗！隨著半導體可靠性的提高半導體器件能承受長期的THB試驗而不會產生失效，因此用來確定成品質量的測試時間也相應增加了許多.為了提高試驗效率、減少試驗時間。
更新時間:2025-07-31
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福建非飽和高壓加速老化試驗機用于調查分析何時出現電子元器件，和機械零件的摩耗和使用壽命的問題，使用壽命的故障分布函數呈什么樣的形狀，以及分析失效率上升的原因所進行的試驗！隨著半導體可靠性的提高半導體器件能承受長期的THB試驗而不會產生失效，因此用來確定成品質量的測試時間也相應增加了許多.為了提高試驗效率、減少試驗時間。
更新時間:2025-07-03|
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HAST高溫高壓加速老化測試機用于調查分析何時出現電子元器件，和機械零件的摩耗和使用壽命的問題，使用壽命的故障分布函數呈什么樣的形狀，以及分析失效率上升的原因所進行的試驗！隨著半導體可靠性的提高半導體器件能承受長期的THB試驗而不會產生失效，因此用來確定成品質量的測試時間也相應增加了許多.為了提高試驗效率、減少試驗時間。
更新時間:2025-07-03|
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hast非飽和高壓老化試驗箱用于調查分析何時出現電子元器件，和機械零件的摩耗和使用壽命的問題，使用壽命的故障分布函數呈什么樣的形狀，以及分析失效率上升的原因所進行的試驗！隨著半導體可靠性的提高半導體器件能承受長期的THB試驗而不會產生失效，因此用來確定成品質量的測試時間也相應增加了許多.為了提高試驗效率、減少試驗時間。
更新時間:2025-07-03|
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hast非飽和高壓加速老化試驗箱用于調查分析何時出現電子元器件，和機械零件的摩耗和使用壽命的問題，使用壽命的故障分布函數呈什么樣的形狀，以及分析失效率上升的原因所進行的試驗！隨著半導體可靠性的提高半導體器件能承受長期的THB試驗而不會產生失效，因此用來確定成品質量的測試時間也相應增加了許多.為了提高試驗效率、減少試驗時間。
更新時間:2025-07-03|
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非飽和高壓加速老化試驗箱用于調查分析何時出現電子元器件，和機械零件的摩耗和使用壽命的問題，使用壽命的故障分布函數呈什么樣的形狀，以及分析失效率上升的原因所進行的試驗！隨著半導體可靠性的提高半導體器件能承受長期的THB試驗而不會產生失效，因此用來確定成品質量的測試時間也相應增加了許多.為了提高試驗效率、減少試驗時間。
更新時間:2025-07-03|
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可程式高壓加速老化試驗機用于調查分析何時出現電子元器件，和機械零件的摩耗和使用壽命的問題，使用壽命的故障分布函數呈什么樣的形狀，以及分析失效率上升的原因所進行的試驗！隨著半導體可靠性的提高半導體器件能承受長期的THB試驗而不會產生失效，因此用來確定成品質量的測試時間也相應增加了許多.為了提高試驗效率、減少試驗時間。
更新時間:2025-07-03|
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hast高壓加速老化試驗機用于調查分析何時出現電子元器件，和機械零件的摩耗和使用壽命的問題，使用壽命的故障分布函數呈什么樣的形狀，以及分析失效率上升的原因所進行的試驗！隨著半導體可靠性的提高半導體器件能承受長期的THB試驗而不會產生失效，因此用來確定成品質量的測試時間也相應增加了許多.為了提高試驗效率、減少試驗時間。
更新時間:2025-07-03|
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PCT高壓加速老化試驗設備用于調查分析何時出現電子元器件，和機械零件的摩耗和使用壽命的問題，使用壽命的故障分布函數呈什么樣的形狀，以及分析失效率上升的原因所進行的試驗！隨著半導體可靠性的提高半導體器件能承受長期的THB試驗而不會產生失效，因此用來確定成品質量的測試時間也相應增加了許多.為了提高試驗效率、減少試驗時間。
更新時間:2025-07-03|
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PCT老化試驗箱用于調查分析何時出現電子元器件，和機械零件的摩耗和使用壽命的問題，使用壽命的故障分布函數呈什么樣的形狀，以及分析失效率上升的原因所進行的試驗！隨著半導體可靠性的提高半導體器件能承受長期的THB試驗而不會產生失效，因此用來確定成品質量的測試時間也相應增加了許多.為了提高試驗效率、減少試驗時間。
更新時間:2025-07-03|
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非飽和高壓加速老化試驗機用于調查分析何時出現電子元器件，和機械零件的摩耗和使用壽命的問題，使用壽命的故障分布函數呈什么樣的形狀，以及分析失效率上升的原因所進行的試驗！隨著半導體可靠性的提高半導體器件能承受長期的THB試驗而不會產生失效，因此用來確定成品質量的測試時間也相應增加了許多.為了提高試驗效率、減少試驗時間。
更新時間:2025-07-03|
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高壓加速老化試驗機用于調查分析何時出現電子元器件，和機械零件的摩耗和使用壽命的問題，使用壽命的故障分布函數呈什么樣的形狀，以及分析失效率上升的原因所進行的試驗！隨著半導體可靠性的提高半導體器件能承受長期的THB試驗而不會產生失效，因此用來確定成品質量的測試時間也相應增加了許多.為了提高試驗效率、減少試驗時間。
更新時間:2025-07-03